Cubis? II 大量程微量天平 ：將數(shù)據(jù)表中的性能化為現(xiàn)實
概述
實驗室天平的性能可能會受到環(huán)境條件以及樣品和用戶的影響，從而導致與儀器規(guī)格出現(xiàn)偏差。為了解決這個問題，賽多利斯致力于開發(fā)出一款不易受環(huán)境影響的天平，從而加快稱重工作流程并改進規(guī)格。
Cubis? II 大量程微量天平 是賽多利斯推出的一款精密分析儀器，旨在消除環(huán)境對稱重結(jié)果的影響。
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關(guān)鍵要點
目標：在真實實驗室條件下證明 Cubis? II 大量程微量天平的出色性能
重點：?
- 根據(jù) USP41 在整個稱重范圍內(nèi)確定最小樣品重量
- 消除靜電影響
- 通風條件下的性能（例如在通風柜中）
- 氣壓補償
該資源適用于以下用戶：
實驗室天平用戶、操作員、實驗室經(jīng)理
標準實驗室
政府實驗室
藥廠
學術(shù)培訓、教育和學校的從業(yè)人員
食品飲料行業(yè)
醫(yī)藥行業(yè)
化學工業(yè)
汽車行業(yè)