T 細胞耗竭
T 細胞耗竭是一個概念寬泛的術(shù)語,用于描述長期刺激造成的 T 細胞功能障礙。耗竭性t細胞可表現(xiàn)出獨特的表型,包括抑制性標(biāo)志物(例如 PD-1、LAG-3 和 TIM-3)過度表達,以及 T 細胞釋放促炎性細胞因子(IFNγ 和 TNFα)的能力減弱。t細胞耗竭通常發(fā)生在腫瘤微環(huán)境中,耗竭 t 細胞將喪失細胞毒性作用,無法殺傷癌細胞。
如何逆轉(zhuǎn)或克服 T 細胞的耗竭狀態(tài)問題一直備受關(guān)注,特別是通過加入檢查點抑制抗體來產(chǎn)生 CAR-T 細胞這一研究。因此,模擬 t細胞耗竭從問題到解決方案的環(huán)境能夠幫助我們進一步了解這一現(xiàn)象。
檢測原理
關(guān)鍵優(yōu)勢
圖 3. LAG-3 過表達在耗竭 T 細胞上持續(xù) 3 天以上
將未耗竭(即先前未刺激)或耗竭前的 CD3+ T 細胞以 200 K/孔的密度接種。耗竭的 T 細胞用 Dynabead CD3/CD28(微球:細胞比例 1:1)進行反復(fù)刺激(每隔 2-3 天次刺激一次,總共刺激 5 次)。在孔中使用 Dynabead CD3/CD28 誘導(dǎo)活化。每 24 h 使用 iQue? 人 T 細胞耗竭分析試劑盒分析 10 μL 樣本。
訂購信息
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